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德国菲希尔

德国菲希尔FISCHER  XUV  X 射线荧光镀层测厚仪
  • 德国菲希尔FISCHER  XUV  X 射线荧光镀层测厚仪

德国菲希尔FISCHER XUV X 射线荧光镀层测厚仪

简介:XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。
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详细说明

XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此,该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。
 
特性:
● 检出限低、重复精度高,以及测量适用性广,因此特别适用于研究和开发使用
● 配备真空测量室和高性能硅漂移探测器,能够实现精确测量,尤其是对轻元素的测试
● 通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试
● 准直器和滤波器可切换,因此可适用于各种材料和测试条件
 
应用:
涂层厚度测量
● 原子序数从Na(11)开始的轻元素镀层,可测量厚度低至纳米级
● 铝镀层和硅镀层
 
材料分析
● 测定宝石的真伪与原产地
● 常规材料分析和取证
● 高分辨率痕量分析